如何接觸電阻介紹

 如何接觸電阻介紹

接下來為(wei) 大家分享如何接觸電阻介紹。

 如何測量回路中包含的但不改變電路的接觸電阻？  

一種新的方法將解決(jue) 它。該方法對於(yu) 測量複雜機械組件中的接觸電阻非常有用。接觸電阻定義(yi) 為(wei) 接觸兩(liang) 端的電壓與(yu) 流經閉合的一對接觸的電流之比。它符合歐姆定律。金屬1和金屬2之間有一個(ge) 接口。可以從(cong) 電流表讀取電流I，電流I流過該接口。然後可以從(cong) 電壓表讀取接口兩(liang) 端的電壓降，即U。然後可以計算出接觸電阻值Rx。 

Rx = U / I 

由於(yu) 接觸電阻隨環境和電流的流逝而變化，因此測量條件應與(yu) 使用條件相近。在精確測量中必須使用四端子測量技術和消除熱EMFs技術。這種間接測量方法可用於(yu) 測量接觸電阻或環路電阻。它需要三個(ge) 測試點，三個(ge) 步驟和三個(ge) 公式。該方法已被批準為(wei) 正確方法，也可用於(yu) 校準環路電阻器標準。 

接觸電阻測試的典型方法

四線（開爾文）直流電壓降是微歐表用於(yu) 接觸電阻測試的典型方法，通過消除自身的接觸電阻和測試引線的電阻，可以確保更準確的測量。  

接觸電阻測試是使用兩(liang) 個(ge) 電流連接進行注入，並使用兩(liang) 個(ge) 電位引線進行電壓降測量來進行的；電壓電纜必須盡可能靠近要測試的連接，並且始終在所連接的電流引線形成的電路內(nei) 部。 

通過測量電壓降，微處理器控製的微歐表可以計算接觸電阻，同時消除了由於(yu) 連接中的熱EMF效應而引起的可能的誤差（熱EMF是在將兩(liang) 種不同的金屬連接在一起時產(chan) 生的小的熱電偶電壓）如果不通過不同方法從(cong) 測量中減去誤差（極性反轉和求平均值，直接測量熱電動勢的大小等），則將它們(men) 添加到測量的總壓降中，並將誤差引入到接觸電阻測試中。 

如果在使用低電流測試斷路器觸點電阻時獲得低電阻讀數，則建議在較高電流下重新測試觸點。為(wei) 什麽(me) 使用更高的電流會(hui) 受益？較高的電流將有能力克服端子上的連接問題和氧化，在這種情況下，較低的電流可能會(hui) 產(chan) 生錯誤的（較高的）讀數。 

在接觸電阻測試中，保持一致的測量條件非常重要，能夠與(yu) 以前和將來的結果進行比較以進行趨勢分析。因此，在進行定期測量時，必須在相同的位置，使用相同的測試導線（始終使用製造商提供的校準電纜）並且在相同的條件下進行接觸電阻測試，以便能夠知道何時進行連接。 連接，焊接或設備將變得不安全。